<pre id="c3hjf"></pre>

<object id="c3hjf"><option id="c3hjf"></option></object>
    1. <optgroup id="c3hjf"></optgroup>
      1. <ins id="c3hjf"></ins>

        首页 > 产品信息

         

        W系列—弧高台阶仪
         专利号:ZL201120280620.7

         

        探测系统:

        显微探头:实现快速弧高及台阶测量,可测弧高台阶范围50~2000μm(一般弧高的高度不超过800μm),并支持器件几何尺寸测量;
        激光探头:

        实现快速台阶测量,可测台阶范围2~500μm,并支持表面轮廓扫描。

         

        系统配置:

        用途
        1.弧高测量 2.台阶测量 3.器件尺寸测量
        型号
        WB-70RX
        载物台
        全自动载物台
        行程:105mm X 105mm
        支持夹具定制
        聚焦
        电动聚焦系统,解析率:1.0μm
        显微探头:含影像自动聚焦及特有双ROI长焦扫描功能
        激光探头:含影像辅助定位功能
        照明系统
        环形、同轴照明可选
        软件系统
        图像处理软件系统,
        带虚拟弧高算法功能及SPC控制模块
        检查性能
        显微探头:高度测量3σ≤3.0μm,精度±3um;
        激光探头:高度测量3σ≤0.2μm,精度±0.2um;
        标配外观尺寸
        长:800mm  宽:750mm  高:1500mm

         

         

         

         

        版权所有:苏州爱特盟光电有限公司 苏ICP备15029769号-1    关于我们 产品信息 资质荣誉 技术反馈 资料下载 联系我们
        成 人 网 站不卡在线观看
        <pre id="c3hjf"></pre>

        <object id="c3hjf"><option id="c3hjf"></option></object>
        1. <optgroup id="c3hjf"></optgroup>
          1. <ins id="c3hjf"></ins>