<pre id="c3hjf"></pre>

<object id="c3hjf"><option id="c3hjf"></option></object>
    1. <optgroup id="c3hjf"></optgroup>
      1. <ins id="c3hjf"></ins>

        首页 > 产品信息

         

         

        晶体扫描仪—激光扫描】
        专利号:ZL201220161303.8
         
        能描述:
        1. 快速检测光学平面、声光晶体等光滑表面的微小缺陷,包括划痕、颗粒、脏污等典型缺陷;
        2. 快速检测薄膜太阳能电池片等镀膜表面的缺膜及定性测量膜厚均匀度;
        3. 扫描速度:>550mm2/秒;
        4. 检测灵敏度高,检测口径大,特别适合工业生产中在线检测;
        5. 检测结果可根据用户要求进行自动分析、归类、统计,可有效提高生产效率及良率。
         
         
        系统配置:
         
        用途
        快速检测光滑表面微小缺陷及污迹;镀膜表面的缺膜等
        型号
        XTL-3K
        光源
        532nm单模连续激光
        信号采集
        高灵敏度光电探测器、前置放大、16通道高速A/D卡
        载物台
        全自动扫描载物台
        行程:158x158mm(不拼接),  210x210mm(拼接)
        支持夹具定制
        反馈系统
        线性反馈尺; 解析率:0.1um/1.0um可选
        软件系统
        包含运动控制、激光扫描、信号采集、图像处理等功能
        检查性能
        分辨率:2um
        隔震系统
        隔振平台,有效隔离高频振动
        标配外观尺寸
        长:1200mm   宽:800mm   高:1500mm
         
        版权所有:苏州爱特盟光电有限公司 苏ICP备15029769号-1    关于我们 产品信息 资质荣誉 技术反馈 资料下载 联系我们
        成 人 网 站不卡在线观看
        <pre id="c3hjf"></pre>

        <object id="c3hjf"><option id="c3hjf"></option></object>
        1. <optgroup id="c3hjf"></optgroup>
          1. <ins id="c3hjf"></ins>